[发明专利]通过施加P-衬底偏压和调节阈值电压提高磁性隧道结的编程电流在审

专利信息
申请号: 201010148508.8 申请日: 2010-04-14
公开(公告)号: CN101867015A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 庄建祥;钟道文;林春荣;王郁仁 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L43/00 分类号: H01L43/00;H01L27/22
代理公司: 北京市德恒律师事务所 11306 代理人: 孙征;陆鑫
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种操作磁阻性随机存取存储器(MRAM)单元的方法包括:设置MRAM单元,该MRAM单元包括磁性隧道结(MTJ)器件和具有串联至MTJ器件的源-漏路径的字线选择器。负衬底偏压连接至字线选择器的主体,以增大字线选择器的驱动电流。还减小字线选择器的阈值电压。本发明还公开了一种通过施加P-衬底偏压和调节阈值电压提高磁性隧道结的编程电流的方法。
搜索关键词: 通过 施加 衬底 偏压 调节 阈值 电压 提高 磁性 隧道 编程 电流
【主权项】:
一种操作磁阻性随机存取存储器(MRAM)单元的方法,所述方法包括:设置所述MRAM单元,所述MRAM单元包括:磁性隧道结(MTJ)器件;以及字线选择器,包括串联至所述MTJ器件的源-漏路径;以及将负衬底偏压连接至所述字线选择器的主体。
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