[发明专利]一种利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法无效
| 申请号： | 201010151216.X | 申请日： | 2010-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101813774A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 崔喜红;陈晋;沈金松 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89;G01S7/41 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人： | 陈惠莲 |
| 地址： | 100875*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法，包括如下步骤：通过所述探地雷达扫描获得待测量的植物地下根的具体位置，并产生相应的反射波形扫描数据；选择经过该待测量的植物地下根的中心位置正上方的一个反射波的波形图；根据所述波形图，从中提取一个时间参数ΔT，进而获得所述待测量的植物地下根的直径，该时间参数ΔT表示从雷达发射的电磁波在到达根顶面时的反射波初至时间点开始到根底面反射波的延时点结束。本发明的特点及优点是：其可以通过探地雷达对植物地下根的直径进行精确的定量测量，其获得的测量结果与植物地下根的实际直径具有很强的相关性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 雷达 测量 植物 地下 直径 方法 | ||
【主权项】：
一种利用探地雷达测量植物地下根的直径的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：A、通过所述探地雷达扫描获得待测量的植物地下根的具体位置，并产生相应的反射波形扫描数据；B、选择经过该待测量的植物地下根的中心位置正上方的一个反射波的波形图；C、根据所述波形图，从中提取一个时间参数ΔT，该时间参数ΔT表示从雷达发射的电磁波在到达根顶面时的反射波初至时间点开始到根底面反射波的延时点结束；D、通过公式D＝K×ΔT获得所述待测量的植物地下根的直径，其中，D为所述待测量的植物地下根的直径，K为探地雷达所测量的地下根在该区域范围内所对应的一个特性常数。
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