[发明专利]一种应用于轴孔直径测量的光学系统无效
| 申请号： | 201010151256.4 | 申请日： | 2010-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN101839697A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 谢洪波;邾继贵;王仲;李富琳 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B11/12 | 分类号： | G01B11/12;G02B27/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 温国林 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于轴孔直径测量的光学系统，涉及先进光学设计与精密测量技术领域，所述光学系统包括：光电探测装置、基准装置、固定调整装置、成像装置、照明装置；所述光电探测装置、所述固定调整装置、所述成像装置、所述照明装置相对于所述基准装置对称放置；待测的轴孔直径的变化量与所述成像装置的光轴不垂直；所述光电探测装置固定在所述固定调整装置上；所述成像装置沿所述固定调整装置的斜面方向固定在所述固定调整装置上；所述照明装置沿水平面方向固定在所述固定调整装置上；所述固定调整装置固定在所述基准装置上。本发明实施例实现了对无法正向观察或正向成像的待测几何量进行准确的成像测量，满足对轴孔直径测量的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 直径 测量 光学系统 | ||
【主权项】：
一种应用于轴孔直径测量的光学系统，其特征在于，所述光学系统包括：待测几何量、光电探测装置、基准装置、固定调整装置、成像装置、照明装置；所述待测几何量、所述光电探测装置、所述固定调整装置、所述成像装置、所述照明装置相对于所述基准装置对称放置；所述待测几何量与所述成像装置的光轴不垂直；所述光电探测装置固定在所述固定调整装置上；所述成像装置沿所述固定调整装置的斜面方向固定在所述固定调整装置上；所述照明装置沿水平面方向固定在所述固定调整装置上；所述固定调整装置固定在所述基准装置上。
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