[发明专利]二极管芯片的量测装置及量测方法

摘要

本发明公开了一种二极管芯片的量测装置及量测方法。二极管芯片设置于热传导元件上。量测装置会先量测二极管芯片的瞬间启动电流，并量测热传导元件的对应于瞬间启动电流的第一温度。当二极管芯片开始操作之后，量测装置再将热传导元件的温度调整至第二温度，以使二极管芯片的电流等于上述的瞬间启动电流。量测装置依据二极管芯片的实功率以及第一温度和第二温度之间的温度差，计算二极管芯片的属性。

主权项

一种二极管芯片的量测方法，其特征在于，包括：将该二极管芯片设置在一热传导元件上；将一电压施加在该二极管芯片，且借由一电流量测单元量测该二极管芯片的一瞬间启动电流，并借由一温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第一温度；在该电压施加在该二极管芯片后，开始借由一温度控制模块，控制该热传导元件的温度，直到该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流为止；以及当控制该热传导元件的温度后，倘若该电流量测单元所量测到该二极管芯片的电流等于该瞬间启动电流，则借由该温度量测元件量测该热传导元件的温度为一第二温度。