[发明专利]一种新型光栅检测光学成像系统无效

专利信息
申请号: 201010152259.X 申请日: 2010-04-22
公开(公告)号: CN101839801A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 马洪涛;何煦;陈琦;韩冰;崔继承 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明光栅检测光学成像系统涉及光学仪器设计领域,该系统包括入射狭缝、45°转向棱镜、球面准直成像镜和探测器,入射狭缝置于球面准直成像镜的焦点处,45°转向棱镜置于球面准直成像镜的光轴上;通过入射狭缝的光束经过45°转向棱镜后射入球面准直成像镜,经球面准直成像镜准直后变成平行光射向被检光栅,再由被检光栅衍射后重新进入球面准直成像镜,此时球面准直成像镜将光束会聚到45°转向棱镜,最后光束经由45°转向棱镜成像到探测器上。本发明的有益效果是:该系统结构简单,调试方便,成本低;检测精度高,环境稳定性好。
搜索关键词: 一种 新型 光栅 检测 光学 成像 系统
【主权项】:
一种新型光栅检测光学成像系统,其特征在于,该系统包括入射狭缝、45°转向棱镜、球面准直成像镜和探测器,所述入射狭缝置于球面准直成像镜的焦点处,所述45°转向棱镜置于球面准直成像镜的光轴上;通过入射狭缝的光束经过45°转向棱镜后射入球面准直成像镜,经球面准直成像镜准直后变成平行光射向被检光栅,再由被检光栅衍射后重新进入球面准直成像镜,此时球面准直成像镜将光束会聚到45°转向棱镜,最后光束经由45°转向棱镜成像到探测器上。
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