[发明专利]电子组件测试分类机的测试装置

摘要

一种电子组件测试分类机的测试装置，配置于具有测试站及载送装置的机台上方，并于机架的一侧装设第一取料机构及第二取料机构，第一、二取料机构各具有第一、二升降结构及第一、二横移结构，用以分别带动底面两侧具有第一、二取放器的第一、二直压杆架作升降及横向移动，使得第一、二取料机构的第一、二取放器可各别作动于测试站及载送装置的第一、二入、出料载台间移载待测/已测电子组件，并利用第一、二直压杆架使第一、二取放器保持较佳的水平度，以平整压抵待测电子组件执行测试作业；由此，第一、二取料机构可同侧配置而使机构设计更加简易且不占空间，并各别作动以缩短作业时间，以及使各电子组件于测试时均匀受力而提升测试质量。

主权项

一种电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该测试装置配置于具有测试站及载送装置的机台上，载送装置于测试站的前方设有第一入、出料载台，并于测试站的后方设有第二入、出料载台，该测试装置包含：机架，设于机台上；第一取料机构，其装设于机架的一侧面，具有第一升降结构及第一横移结构，用以分别带动底面具有第一取放器的第一直压杆架作升降及横向移动，使得第一取放器于测试站及载送装置的第一入、出料载台间移载待测/已测电子组件；第二取料机构，其装设于机架供配置第一取料机构的同一侧面上，具有第二升降结构及第二横移结构，用以分别带动底面具有第二取放器的第二直压杆架作升降及横向移动，使得第二取放器于测试站及载送装置的第二入、出料载台间移载待测/已测电子组件。