[发明专利]用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质

摘要

本发明用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质，特别是公开了一种为工业生产过程提供质量保证的方法。该方法包括从工业生产过程中获得一制造材料，让该制造材料与纳米表面接触，使得有害物质吸附到该纳米表面上。该方法还包括利用一光谱仪从该制造材料和该纳米表面获得一拉曼光谱，利用一光谱分析系统查找有害物质在拉曼光谱中预定光谱范围内的光谱信号，如果在拉曼光谱中存在该光谱信号，则检测该制造材料中有害物质的浓度，如果该浓度超出一预定的允许限度，那么将该制造材料从该工业生产过程中排除。

主权项

一种制造系统，包括：一利用至少一种原材料生产产品的产品生产系统；和一质量保证和生产控制系统，从产品生产系统获得制造材料，其中所述制造材料包括原材料、产品和中间材料或副产品，质量保证和生产控制系统将所述制造材料引入到一样品溶液、气体或气溶胶中，让样品溶液、气体或气溶胶中该制造材料与纳米表面相接触，用一激光束照射该制造材料和该纳米表面，激光束被该制造材料和该纳米表面散射产生一散射光，利用一光谱仪从该散射光获得一拉曼光谱，在该拉曼光谱中的一预定光谱范围内查找一有害物质的光谱信号，检测该制造材料中是否存在该有害物质，如果在该拉曼光谱中没有发现该特定光谱信号，则认为该制造材料合格，如果在该拉曼光谱中发现了该光谱信号，则检测该制造材料中有害物质的浓度，如果该浓度低于一预定的允许限度，则该制造材料合格，如果该制造材料中有害物质的浓度超出了一预定的允许限度，则拒绝该制造材料。