[发明专利]实现芯片功能故障快速调试定位的方法及调试电路有效
| 申请号： | 201010155027.X | 申请日： | 2010-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN102236066A | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 舒海军 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现芯片功能故障快速调试定位的方法，在芯片电路内嵌入一调试电路，当芯片出现功能故障时，通过该芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式；对待观察的芯片内部信号进行选择；选择好的芯片内部信号通过芯片的一个预定义好的管脚进行输出；通过观察芯片工作过程中某些内部信号的波形，并与设计时该信号的期望波形相比较，实现功能故障的调试与定位。本发明还公开了实现所述方法中的调试电路。在芯片出现功能故障后，本发明能够快速低成本的实现芯片故障的调试和定位。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 芯片 功能 故障 快速 调试 定位 方法 电路 | ||
【主权项】：
一种实现芯片功能故障快速调试定位的方法，其特征在于：在芯片电路内嵌入一调试电路，当芯片出现功能故障时，通过该芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式；对待观察的芯片内部信号进行选择；选择好的芯片内部信号通过芯片的一个预定义好的管脚进行输出；通过观察芯片工作过程中某些内部信号的波形，并与设计时该信号的期望波形相比较，实现功能故障的调试与定位。
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