[发明专利]光学型位置检测器及光学装置无效
申请号: | 201010156433.8 | 申请日: | 2010-03-30 |
公开(公告)号: | CN101871792A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 吉田秀夫;伊藤久男;菊田健悟 | 申请(专利权)人: | 富士能株式会社 |
主分类号: | G01D5/34 | 分类号: | G01D5/34;G03B13/36 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光学型位置检测器及光学装置,该光学型位置检测器及光学装置以简单的结构可以取得精度良好的位置信息。其具备发光部(83d),出射被检测光(y1);发光部(83e),并设于发光部(83d)且出射被检测光(y2);反射板(83a),包括相对于发光部(83d、83e)沿着其并设方向相对移动,并且白区域以及相对被检测光(y1)及被检测光(y2)具有与白区域不同的反射率的黑区域被交替配置的光学图案;受光部(83c),根据在反射板(83a)反射的被检测光(y1、y2)的光强度输出输出电压信号(Y1、Y2);控制部(81),根据输出输出电压信号(Y1、Y2)的大小选择输出电压信号(Y1、Y2)的任意一方而作为位置检测信号,根据选择的位置检测信号取得与反射板(83a)联动的移动透镜(90)的位置信息而构成。 | ||
搜索关键词: | 光学 位置 检测器 装置 | ||
【主权项】:
一种光学型位置检测器,其中,具备:第1发光部,其出射第1被检测光;第2发光部,其与上述第1发光部并设且出射第2被检测光;光学刻度盘,其包含光学图案,所述光学图案相对于上述第1发光部及上述第2发光部沿着上述第1发光部及上述第2发光部的并设方向相对移动,并且交替配置第1区域、以及对于上述第1被检测光和上述第2被检测光具有与上述第1区域不同的透过率或反射率的第2区域;受光部,其基于透过上述光学刻度盘的上述第1被检测光的光强度或由上述光学刻度盘反射的上述第1被检测光的光强度,输出第1输出信号,并且基于透过上述光学刻度盘的上述第2被检测光的光强度或由上述光学刻度盘反射的上述第2被检测光的光强度输出第2输出信号;信号选择机构,其基于上述第1输出信号或上述第2输出信号的大小,选择上述第1输出信号及上述第2输出信号的其中一方而作为位置检测信号;位置信息取得机构,其基于上述位置检测信号取得与上述光学刻度盘联动的移动构件的位置信息。
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