[发明专利]修补方法以及主动元件阵列基板无效
申请号: | 201010156557.6 | 申请日: | 2010-04-07 |
公开(公告)号: | CN101813840A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 蔡东璋 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种修补方法以及主动元件阵列基板。主动元件阵列基板包括基板、扫描线、数据线、主动元件、像素电极以及共通线,至少其中一扫描线具有一断线瑕疵,扫描线与数据线彼此交错以于基板上定义出子像素区域,主动元件与对应的扫描线及数据线电连接,各像素电极位于其中一子像素区域内,并分别与其中一主动元件电连接。所述修补方法包括:切除邻近于断线瑕疵的其中一共通线,以形成一与共通线电绝缘的切除区块;以及令切除区块以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件焊接,以使切除区块与具有断线瑕疵的扫描线电连接。本发明的修补方法可以在不影响开口率的情况下,对主动元件阵列基板进行修补。 | ||
搜索关键词: | 修补 方法 以及 主动 元件 阵列 | ||
【主权项】:
一种修补方法,其特征在于,所述修补方法适于修补一主动元件阵列基板,所述主动元件阵列基板包括一基板、多条扫描线、多条数据线、多个主动元件、多个像素电极以及多条共通线,至少其中一条扫描线具有一断线瑕疵,所述扫描线与所述数据线彼此交错以于所述基板上定义出多个子像素区域,所述主动元件分别与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接,各像素电极位于其中一个子像素区域内,并与其中一个主动元件电连接,而所述修补方法包括:切除邻近于所述断线瑕疵的其中一条共通线,以形成一与所述共通线电绝缘的切除区块;以及令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接,以使所述切除区块与具有所述断线瑕疵的所述扫描线电连接。
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