[发明专利]电子元器件接合方法和凸点形成方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201010157047.0 申请日: 2010-03-23
公开(公告)号: CN101853794A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 塚原法人;小山雅义 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H05K3/34
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 将流体(4)提供到电路基板(1)上后,对摄像机(22)的拍摄数据进行图像处理,以测量提供的流体(4)中包含的导电性粒子(3)的量,基于测量出的数值,将接合工序中的电路基板(1)的第一电极(2)与电子元器件(5)的第二电极(6)的间隙的值控制为适当值。藉此,即使接合材料的提供量有偏差,也能够进行接合和在电极上形成凸点,而无不良焊料开路、短路。
搜索关键词: 电子元器件 接合 方法 形成 及其 装置
【主权项】:
一种电子元器件接合方法,其特征在于,在使包含导电性粒子(3)的流体(4)介于基板(1)与电子元器件(5)之间、并且保持在所述基板(1)的第一电极(2)与所述电子元器件(5)的第二电极(6)之间的间隙(H)的状态下进行了加热,该被加热的所述流体(4)流动,从而熔融的所述导电性粒子(3)自聚集在所述第一电极(2)与所述第二电极(6)之间,然后冷却到所述导电性粒子(3)的凝固温度以下,从而将所述电子元器件(5)安装于所述基板(1),在进行上述处理时,包括:拍摄提供给所述基板(1)或所述电子元器件(5)的流体(4)、并利用图像识别来测量导电性粒子(3)的量的工序(S2);基于所述测量出的实际的导电性粒子(3)的量来决定所述间隙的值进行控制的工序(S3);以及基于所述测量出的实际的导电性粒子(3)的量来决定适当的目标间隙(H0)的值、并进行控制以使得所述间隙(H)接近所述目标间隙(H0)的工序(S4)。
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