[发明专利]顶栅顶接触自对准有机薄膜晶体管的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010159085.X 申请日: 2010-04-29
公开(公告)号: CN101814581A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 张彤;王丽杰;胡佳欢 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 张景林;刘喜生
地址: 130012 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明属于微电子技术领域,具体涉及一种顶栅顶接触自对准型有机薄膜晶体管(Organic Thin Film Transistor,OTFT)的制备方法。首先利用真空蒸镀法在清洁的绝缘衬底上制备有源层,然后利用真空蒸镀法制备绝缘层,再通过掩膜方法实现绝缘层的图案化,即形成有源层-绝缘层-有源层的台阶结构;最后利用真空蒸镀法制备金属电极层。其中源、栅、漏三个电极在最后一步工艺同时形成。本发明具有工艺简单、器件特性好的优点,将无机TFT器件中的自对准工艺方法应用于OTFT制作过程中,减少了栅极与源、漏电极的交叠面积,从而减小栅漏之间的漏电流,有利于提高器件的开关电流比。
搜索关键词: 顶栅顶 接触 对准 有机 薄膜晶体管 制备 方法
【主权项】:
一种顶栅顶接触自对准有机薄膜晶体管的制备方法,其步骤如下:A.用乙醇/丙酮混合溶剂超声清洗作为绝缘衬底(6)的基片10~15分钟,然后将基片放入去离子水中,煮沸到基片表面无残留气泡为止,随后再次超声清洗10~20分钟,最后再用去离子水超声10~20分钟进行漂洗,漂洗结束后,将基片置于超净间内的洁净工作台中,用红外灯烘烤1~5小时,彻底除去基片表面的水分;B.在基片上沉积40~60nm厚的CuPc作为有源层(4);C.在有源层上沉积300~350nm厚的尼龙/CaF2作为绝缘层(5),再通过掩膜或光刻后,形成有源层-绝缘层-有源层的台阶结构;尼龙层的厚度为5~20nm,CaF2层的厚度为295~330nm;D.在台阶结构的有源层(4)上各沉积100~150nm厚的Al金属层作为漏电极(2)和源电极(3);E.在台阶结构的绝缘层(5)上沉积100~150nm厚的Al金属层作为栅电极(1),从而完成顶栅顶接触自对准有机薄膜晶体管的制备。
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