[发明专利]一种集成电路设计方法和设计仿真系统有效

专利信息
申请号: 201010162682.8 申请日: 2010-04-30
公开(公告)号: CN102236728A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 尹文;邹翾;庞则桂;刘玮;韩海涛 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李向英
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种集成电路设计方法,系统和仿真器,其中方法包括:确定要分析电源噪声的区域、该区域的初始面积和要使用的初始去耦电容个数;确定该区域的电流模型参数;确定该区域的初始面积对应的电源网络模型的模型参数;将该区域的网表、该区域的初始面积、该区域要使用的初始去耦电容个数、该区域的电流模型参数、该区域的电源网络模型的模型参数、输入到仿真器中,以获得仿真结果;根据仿真结果,判断该区域在所述该区域的初始面积和所述该区域要使用的初始去耦电容个数下,是否满足芯片电源噪声要求;如果该区域满足芯片电源噪声要求,则确定该初始面积为该区域在使用所述初始去耦电容个数下,满足芯片电源噪声要求的最小面积。
搜索关键词: 一种 集成电路设计 方法 设计 仿真 系统
【主权项】:
一种集成电路设计方法,包括:确定要分析电源噪声的区域、该区域的初始面积和要使用的初始去耦电容个数;确定该区域的电流模型参数;确定该区域的初始面积对应的电源网络模型的模型参数;将该区域的网表、该区域的初始面积、该区域要使用的初始去耦电容个数、该区域的电流模型参数、该区域的电源网络模型的模型参数输入到仿真器中,以获得仿真结果;根据仿真结果,判断该区域在所述该区域的初始面积和所述该区域要使用的初始去耦电容个数下,是否满足芯片电源噪声要求;如果该区域满足芯片电源噪声要求,则确定该初始面积为该区域在使用所述初始去耦电容个数下,满足芯片电源噪声要求的最小面积。
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