[发明专利]一种半导体倒装焊封装散热改良方法有效

专利信息
申请号: 201010163357.3 申请日: 2010-04-29
公开(公告)号: CN101840868A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 吴晓纯;陶玉娟 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L23/367
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所 31233 代理人: 宋缨;孙健
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种半导体倒装焊封装散热改良方法,包括以下步骤:将正面植有电互联材料的芯片倒装在引线框架的传输管脚上;将弹簧散热器粘在芯片的背面;用塑封料塑封弹簧散热器、芯片、电互联材料和引线框架,形成塑封体,弹簧散热器周围被塑封料固定,其一端与芯片相连,另一端裸露于塑封体表面,将芯片的热量散出塑封体外,解决了一些没有外露芯片承载底座或倒装芯片封装的散热难题,大大提高了产品的电热性能和可靠性。
搜索关键词: 一种 半导体 倒装 封装 散热 改良 方法
【主权项】:
一种半导体倒装焊封装散热改良方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)取一片半导体倒装焊封装用引线框架;(2)将正面植有电互联材料的芯片倒装在引线框架的传输管脚上;(3)用粘结物质将弹簧散热器粘在芯片背面,使弹簧散热器的一端与芯片相连;(4)对已完成弹簧散热器植入作业的半成品用塑封料进行包封作业,使包封后弹簧散热器的另一端裸露于塑封体表面,并对包封后的半成品进行后固化作业;(5)将排列在一起的半导体封装体独立分割开来,形成半导体倒装焊封装散热改良封装体。
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