[发明专利]箝入式存储装置以及其测试方法无效

专利信息
申请号: 201010167944.X 申请日: 2010-04-22
公开(公告)号: CN102237145A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 薛念宗;谢晋升;陈俊宏 申请(专利权)人: 联咏科技股份有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种箝入式存储装置以及其测试方法。该箝入式存储装置,包括一控制单元、一存储单元以及一信号处理与测量单元。控制单元输出多个信号,包括一模式选择信号、以及一组控制信号。存储单元受控制单元所控制,以于预定的地址读取一数据,该存储单元有一组输出端点。信号处理与测量单元有一组输入端点以及一组输出端点,其中输入端点与存储单元的该组输出端点连接,该信号处理与测量单元自该组输入端点读取该数据,并依照该模式选择信号,决定是否对该数据进行一预定处理。在其后,通过该组输出端点将该数据输出。
搜索关键词: 箝入式 存储 装置 及其 测试 方法
【主权项】:
一种箝入式存储装置,包括:一控制单元,输出多个信号,包括一模式选择信号、以及一组控制信号;一存储单元,受该控制单元所控制,以于预定的地址读取一数据,该存储单元有一组输出端点;以及一信号处理与测量单元,有一组输入端点以及一组输出端点,其中该输入端点与该存储单元的该组输出端点连接,该信号处理与测量单元自该组输入端点读取该数据,并依照该模式选择信号,决定是否对该数据进行一预定处理,并于其后通过该组输出端点将该数据输出。
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