[发明专利]10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201010171382.6 申请日: 2010-05-07
公开(公告)号: CN101847672A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: 刘小宇;马文全;张艳华;种明 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/101
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,包括如下步骤:(A)将一衬底烘干、脱氧,以其作为量子阱红外探测器的承载体;(B)利用外延设备在衬底上依次生长N型掺杂的下欧姆接触层、量子阱层,以及N型掺杂的上欧姆接触层;(C)采用光刻及湿法刻蚀技术,将量子阱层及上欧姆接触层的一侧刻蚀,使下欧姆接触层的一侧形成一台面;(D)采用机械抛光的方法,将衬底及下欧姆接触层远离台面的一侧抛成45°抛角,形成入射光窗口;(E)烘干;(F)在上欧姆接触层的表面压焊第一n型电极;(G)在下欧姆接触层一侧形成的台面上压焊第二n型电极。
搜索关键词: 10 14 微米 同时 响应 量子 红外探测器 及其 制作方法
【主权项】:
一种10-14微米同时响应的双色量子阱红外探测器的制作方法,包括如下步骤:(A)将一衬底烘干、脱氧,以其作为量子阱红外探测器的承载体;(B)利用外延设备在衬底上依次生长N型掺杂的下欧姆接触层、量子阱层,以及N型掺杂的上欧姆接触层;(C)采用光刻及湿法刻蚀技术,将量子阱层及上欧姆接触层的一侧刻蚀,使下欧姆接触层的一侧形成一台面;(D)采用机械抛光的方法,将衬底及下欧姆接触层远离台面的一侧抛成45°抛角,形成入射光窗口;(E)烘干;(F)在上欧姆接触层的表面压焊第一n型电极;(F)在下欧姆接触层一侧形成的台面上压焊第二n型电极。
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