[发明专利]一种快速X射线荧光CT方法有效
| 申请号： | 201010171983.7 | 申请日： | 2010-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN101862200A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 邓彪;杨群;谢红兰;杜国浩;肖体乔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明所要解决的技术问题是提高传统X射线荧光CT的数据采集速度。本发明采取的技术方案是提供一种快速X射线荧光CT方法，具体包括用大光斑照射样品，采用加装铅准直器的阵列荧光探测器记录荧光能谱。该方法的数据采集速度与传统的X射线荧光CT方法相比可提高很多倍，数据采集速度提高的倍数与阵列荧光探测器的阵列元相当，例如对于一个64×64阵列荧光探测器，数据采集速度可提高约64×64倍，可实现快速、原位X射线荧光CT实验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 射线 荧光 ct 方法 | ||
【主权项】：
一种快速X射线荧光CT方法，包括：(1)将单色光照射到样品上，所述样品被平移和转动，同时被激发出特征X射线荧光；(2)利用荧光探测器采集所述X射线荧光，得到X射线荧光能谱；(3)解析所述X射线荧光能谱，得到X射线荧光CT的投影数据；(4)利用X射线强度探测器采集所述样品的透射CT的投影数据；(5)根据所述X射线荧光CT的投影数据和所述透射CT的投影数据，重构出所述样品的元素分布图像；其特征在于，所述的单色光的光斑直径大于所述样品的宽度；所述的荧光探测器是加装铅准直器的阵列荧光探测器。
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