[发明专利]自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法无效
申请号: | 201010172904.4 | 申请日: | 2010-05-06 |
公开(公告)号: | CN101852593A | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
发明(设计)人: | 王晓波 | 申请(专利权)人: | 深南电路有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/30 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518053 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法。所述设备包括:检测平台;放置于所述检测平台上的测光工具板,所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物;位于所述检测平台上方的光源、扫描器,所述光源发出的光线投射至所述参照物,所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描,并得到扫描图像;调节装置,用于分析所述扫描图像,根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均匀度,在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。本发明可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况,调节设备的检测效果,提高设备的生产效率和产能。 | ||
搜索关键词: | 自动 光学 检查 设备 及其 测光 工具 调光 方法 | ||
【主权项】:
一种自动光学检查设备,其特征在于,包括:检测平台;放置于所述检测平台上的测光工具板,所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物;位于所述检测平台上方的光源、扫描器,所述光源发出的光线投射至所述参照物,所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描,并得到扫描图像;调节装置,用于分析所述扫描图像,根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均匀度,在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。
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