[发明专利]根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置

摘要

本发明涉及根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置。本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测单元(30)上的每个位置，多种已知的偏振态(22)被发射穿过LCD单元(30)，并且被偏振态分析器(16)检测。计算机获取表示偏振态的电信号。在计算机内，根据LCD单元(30)的物理参数被认为是什么的估计而开发LCD单元(30)的偏振属性的模型。通过迭代地精化建模的物理单元属性，使得模拟的偏振属性与所测量的偏振属性之间的RMS差最小化，此时可以推导出LCD单元的单元厚度和其他物理参数。

主权项

一种用于使用计算机处理设备来分析表示受测偏振改变元件的所测得的偏振态的数据以确定所述受测偏振改变元件的至少一个物理参数的方法，所述方法包括：A)发射具有多个偏振态的光束穿过所述受测偏振改变元件，所述多个偏振态中的每个偏振态与所述多个偏振态中的其它所述偏振态具有不同的取向、椭圆率和旋向性，B)在所述多个偏振态穿过所述受测偏振改变元件之后，在所述受测偏振改变元件的特定点处测量被所述受测偏振改变元件所改变后的偏振态，并基于所测量的偏振态和所述多个偏振态计算所述受测偏振改变元件的偏振矩阵，C)在计算机处理设备中，基于所述受测偏振改变元件的至少一个估计的物理参数，开发包括建模的偏振属性的偏振改变元件模型，D)使用表示所述所测得的偏振态的所述数据，调整所述模型，直到在所述受测偏振改变元件的偏振属性和所述建模的偏振属性之间获得接近匹配为止，E)由此，在获得所述接近匹配时，所述偏振改变元件模型的所述至少一个估计的物理参数表示所述受测偏振改变元件的相应的所述物理参数。