[发明专利]X射线检查装置

摘要

本发明提供X射线检查装置。X射线检查装置(100)通过对物品照射X射线(S1)，利用光电二极管阵列(400)检测出通过闪烁器(300)被变换的光，由此检测出物品600内的微小异物610，该X射线检查装置在闪烁器(300)的X射线照射一侧层叠槽缝部件(500)。由此采用简单的构造就能够准确地检测出微小异物。

主权项

一种X射线检查装置，用于输送检查对象物并检测出所述检查对象物内的异物，其包括：X射线照射装置，其对所述检查对象物照射X射线；闪烁器，在与所述输送方向交叉的方向上延伸设置、且将由所述X射线照射装置照射的X射线光变换为可见光；槽缝部件，其形成有在与所述输送方向交叉的方向上延伸设置的槽缝，并且相对于所述闪烁器被设置在所述X射线照射一侧；和光电二极管阵列，其沿着所述闪烁器的设置方向设置，检测出通过所述闪烁器进行光变换而得到的可见光，并将该可见光变换成电信号，所述槽缝部件的槽缝宽度比所述闪烁器的宽度小，为所述光电二极管阵列的受光宽度的1/2以上。