[发明专利]总光通量测量装置以及总光通量测量方法有效

专利信息
申请号: 201010182880.0 申请日: 2010-05-21
公开(公告)号: CN101893479A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 大久保和明;三岛俊介 申请(专利权)人: 大*电子株式会社
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;陈立航
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中,根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果,来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即,在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后,测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量,接着,使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动,同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。
搜索关键词: 光通量 测量 装置 以及 测量方法
【主权项】:
一种总光通量测量装置,具备:主体,其构成为能够安装作为棒状发光体的对象物;积分部,其具有用于使上述对象物沿纵长方向贯通该积分部的第一孔和第二孔;相对移动机构,其用于在上述对象物贯通上述积分部的状态下使上述对象物和上述积分部相对移动;测量部,其用于通过观测窗来测量上述积分部内的照度,该观测窗被设置于上述积分部的与上述第一孔和上述第二孔不同的位置处;以及处理部,其用于根据由上述测量部在如下情况下测量出的照度,算出上述对象物所放射出的总光通量,该情况是使上述对象物和上述积分部相对移动而使上述对象物全部的发光面都曾暴露于上述积分部的内部空间。
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