[发明专利]一种两平行平面间距离尺寸的检测工具无效
| 申请号： | 201010185902.9 | 申请日： | 2010-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN102261879A | 公开（公告）日： | 2011-11-30 |
| 发明（设计）人： | 陈祖芳;刘辉 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业标准件制造有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B3/34 | 分类号： | G01B3/34 |
| 代理公司： | 贵州国防工业专利中心 52001 | 代理人： | 蔡丽华 |
| 地址： | 550014 贵州*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明所述的检具，结构为一体两端式，左端为上极限量规孔，右端为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面(3)到上极限量规孔端面(2)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸Pmax，基准孔端面(5)到下极限量规孔端面(4)的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸Pmin；测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与零件上被测截面处的φd的值相等，测量时用基准孔直接在回转曲面上确定测量基准。用本发明所述检具极限量规上的基准孔在零件回转曲面上直接确定测量基准而减少了测量误差，且检具易于实现、操作简单、量具成本低，特别适用于在生产现场在线检测和要求进行100％检测时的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平行 平面 间距 尺寸 检测工具 | ||
【主权项】：
一种两平行平面间距离尺寸的检测工具，其特征在于：所述检具的结构为一体两端式，左边为上极限量规孔，右边为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面(3)到上极限量规孔端面(2)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸Pmax，基准孔端面(5)到下极限量规孔端面(4)的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸Pmin，测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与零件上被测截面处的φd的值相等。
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