[发明专利]一种双端SRAM单元有效

专利信息
申请号: 201010187381.0 申请日: 2010-05-28
公开(公告)号: CN101840728A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 胡剑 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种双端SRAM单元,该SRAM单元包括CMOS反相器、与所述CMOS反相器相连的第一PMOS晶体管、与所述第一PMOS晶体管相连的第一电阻、与所述第一PMOS晶体管相连的第一传输晶体管及与所述CMOS反相器相连的第二传输晶体管,所述第一传输晶体管为写入操作传输晶体管,所述第二传输晶体管为读取操作传输晶体管,本发明提供的双端SRAM单元仅包含5个晶体管,因而大大节约了双端SRAM单元的面积,并且所述第一电阻的阻值比导通状态下的第一PMOS晶体管的阻值和第一传输晶体管的阻值大几个数量级,比关闭状态下的第一PMOS晶体管的阻值和第一传输晶体管的阻值小几个数量级,从而使得写“0”和写“1”操作都能顺利进行。
搜索关键词: 一种 sram 单元
【主权项】:
一种双端SRAM单元,其特征在于,包括:CMOS反相器,所述CMOS反相器连接在正电源电压和电源地之间;第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的源极接正电源电压,其栅极与所述CMOS反相器的输出端相连,其漏极与所述CMOS反相器的输入端相连;第一电阻,所述第一电阻的一端与所述第一PMOS晶体管的漏极相连,其另一端接电源地;第一传输晶体管,所述第一传输晶体管的源极/漏极与所述第一PMOS晶体管的漏极相连,其漏极/源极与第一位线相连,其栅极与第一字线相连;以及第二传输晶体管,所述第二传输晶体管的源极/漏极与所述CMOS反相器的输出端相连,其漏极/源极与第二位线相连,其栅极与第二字线相连。
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