[发明专利]一种纳米硅量子点的制备方法及在薄膜太阳电池中的应用无效
申请号: | 201010187573.1 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN101866836A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 袁宁一;丁建宁;叶枫;王秀琴;王书博 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/268;H01L31/20 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 213164 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种纳米硅量子点的制备方法并将该方法用于薄膜太阳电池的制造中。利用PECVD方法生长非晶硅,采用双光束逐层扫描晶化非晶硅薄膜,即利用偏振态为圆偏振的两束飞秒激光的双光束干涉,在非晶网络中形成纳米晶硅。飞秒激光双光束逐层扫描非晶硅是利用三维样品台的移动。首先,飞秒激光聚焦在样品中某一点,激光在该样品深度对样品进行平面扫描,一行一行移动扫描。该层扫描结束后,样品台上移,激光再聚焦到上一平面扫描。通过调控激光功率、脉冲宽度、重复频率和扫描速率,从而在非晶硅网络里形成晶粒大小分布在30~50nm范围,晶粒间距控制在20~40nm左右的纳米硅阵列。利用该纳米硅量子点层可用来制作硅基薄膜电池,提高电池转化效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 量子 制备 方法 薄膜 太阳电池 中的 应用 | ||
【主权项】:
一种纳米硅量子点的制备方法,其特征在于:利用PECVD方法生长非晶硅,采用飞秒激光双光束逐层扫描非晶硅,利用圆偏振飞秒激光双光束的干涉,晶化非晶硅薄膜,在非晶网络中形成纳米晶硅;采用的飞秒激光工艺参数是:波长400~800nm,脉冲宽度5~150fs,脉冲能量0.1~20μJ,重复频率2~100HZ。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造