[发明专利]一种投影三维测量方法有效
| 申请号： | 201010196473.5 | 申请日： | 2010-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN101865671A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 姚征远 | 申请（专利权）人： | 合肥思泰光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人： | 袁由茂 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种投影三维测量方法，分两次设定光源强度，相机曝光时间和增益值，分别对其表面的亮部分和暗部分做三维测量，对测量结果按照预定阀值做筛选，最后得到被测物体表面三维结果。本发明开发设计出一种能解决黑白大反差被测对象的三维测量方法，本发明大大提高了PMP三维测量的动态范围，在对暗部分做测量时由于光源强度增大，被测物体表面的漫反射也同时增强，还可以降低阴影对三维测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 投影 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
一种投影三维测量方法，分两次设定光源强度，相机曝光时间和增益值，分别对其表面的亮部分和暗部分做三维测量，对测量结果按照预定阀值做筛选，最后得到被测物体表面三维结果。
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