[发明专利]位置侦测的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201010197760.8 申请日: 2010-04-16
公开(公告)号: CN102023775A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 叶尚泰;陈家铭;何顺隆 申请(专利权)人: 禾瑞亚科技股份有限公司
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种位置侦测的装置与方法,位置侦测的装置包含多数条导电条相叠构成的多数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对导电条在电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区。依据被压触相叠区,可判断出每一个压触。藉由判断每一个被压触相叠区的接触阻抗,可判断出每一个压触的总接触阻抗,其中跨相叠区的压触的总接触阻抗为相应相同压触的所有相叠区的接触阻抗的并联阻抗。
搜索关键词: 位置 侦测 装置 方法
【主权项】:
一种位置侦测的方法,其特征在于包含:提供复数条导电条相叠构成的复数个相叠区;依据相叠于每个相叠区的一对导电条间是否为通路判断是否为一被压触相叠区;判断相应于每一个被压触相叠区的一接触点的位置;进行一过滤程序以提供位置落于相应的相叠区的一预设范围内的该接触点的位置;以及依据被提供的接触点位置判断出至少一压触的位置。
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