[发明专利]微粒测量设备有效

专利信息
申请号: 201010197850.7 申请日: 2010-06-03
公开(公告)号: CN101923036A 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 村木洋介 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10;G01N21/63;G01N33/483;G01N35/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种微粒测量设备,包括:液流通路,包含微粒的溶液流经该液流通路;光学检测单元,用于将激光束引导至经过液流通路的微粒,检测从微粒发出的用于测量的光,以及将因此检测到的光转换成电信号;溶液供给单元,配置为向液流通路供给包含待测微粒的样本溶液或包含表现出相同的光学特性的参考微粒的校准溶液;以及光轴校正单元,配置为响应于来自参考微粒的电信号的强度使液流通路相对于激光束的相对位置最优化。
搜索关键词: 微粒 测量 设备
【主权项】:
一种微粒测量设备,包括:液流通路,包含微粒的溶液流经所述液流通路;光学检测装置,用于将激光束引导至经过所述液流通路的微粒,检测从所述微粒发出的用于测量的光,以及将所检测到的光转换成电信号;溶液供给装置,用于向所述液流通路供给包含待测微粒的样本溶液或包含表现出相同的光学特性的参考微粒的校准溶液;以及光轴校正装置,用于响应于来自所述参考微粒的电信号的强度使所述液流通路相对于所述激光束的相对位置最优化。
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