[发明专利]测定元件有效
| 申请号： | 201010198725.8 | 申请日： | 2006-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN101839847A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 福永淳;野口荣治;中南贵裕 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/15 | 分类号： | G01N21/15 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 段承恩;杨光军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测定元件(1)，包括测定元件本体(103)和保护罩(101)，所述测定元件本体具有：试样保持部(105)、开口部(106)、光学窗部(104)以及第一保护罩保持部(102)；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部，用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 元件 | ||
【主权项】：
一种测定元件，所述测定元件，包括测定元件本体和保护罩，所述测定元件本体具有：试样保持部、开口部、光学窗部以及第一保护罩保持部；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。
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