[发明专利]从施主衬底到处理衬底的层转移方法有效
申请号: | 201010199577.1 | 申请日: | 2010-03-23 |
公开(公告)号: | CN101877308A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 塞巴斯蒂安·凯尔迪勒;沃尔特·施瓦岑贝格;阿齐兹·哈拉米-艾蒂里斯 | 申请(专利权)人: | 硅绝缘体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/78 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;吕俊刚 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及一种从施主衬底到处理衬底的层转移方法,其中在分离后,施主衬底的剩余部分被再利用。为除去由于衬底的倒角几何形状而形成的不想要的突出边缘区域,本发明提出在分离发生前实施附加的刻蚀工艺。 | ||
搜索关键词: | 施主 衬底 处理 转移 方法 | ||
【主权项】:
一种从施主衬底到处理衬底进行层转移并对该施主衬底的表面进行回收再利用的方法,该方法包括以下步骤:a)提供分别具有倒角边缘区域的施主衬底和处理衬底,该施主衬底具体地为半导体衬底,b)在所述施主衬底内以深度h形成预定分割区,c)对所述施主衬底和所述处理衬底进行附接以得到施主—处理复合体,该附接具体地通过键合实现,其中在所述施主衬底和所述处理衬底二者的倒角边缘区域内,在两个衬底之间没有发生附接,然后d)对所述倒角区域进行刻蚀,使得在未发生附接的区域中从所述施主衬底至少去除厚度约h的层,具体而言去除厚度大于h的层,然后e)使得所述施主衬底的剩余部分与施主—处理衬底分离,其中在所述预定分割区发生分离,以及f)对所述施主衬底的所述剩余部分进行再利用,具体而言在表面处理步骤之后对所述施主衬底的所述剩余部分进行再利用。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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