[发明专利]一种栅控PN场效应晶体管及其控制方法无效

专利信息
申请号: 201010209299.3 申请日: 2010-06-24
公开(公告)号: CN101901837A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 王鹏飞;臧松干;孙清清;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于半导体器件技术领域,具体为一种栅控PN场效应晶体管及其控制方法。本发明公开的栅控PN场效应晶体管,包括一个半导体衬底区、位于所述衬底区左右两侧的漏区和源区、位于所述衬底区上下两侧的栅区。所述的栅控PN场效应晶体管工作在源漏pn结的正偏状态下,而且是从衬底区中央开始导通。本发明所提出的栅控PN场效应晶体管在减小漏电流的同时也增大了驱动电流,也就是在降低芯片功耗的同时提高了芯片的性能。本发明还公开了一种上述栅控PN场效应晶体管的控制方法,包括截止、导通操作。
搜索关键词: 一种 pn 场效应 晶体管 及其 控制 方法
【主权项】:
一种栅控PN场效应晶体管,包括:一个半导体衬底区;位于所述半导体衬底区左右两侧的源区和漏区;位于所述半导体衬底区上下两侧的栅介质层;覆盖所述栅介质层的栅极。
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