[发明专利]一种模拟集成电路设计优化方法有效
| 申请号： | 201010214142.X | 申请日： | 2010-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN102314522A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种模拟集成电路设计优化方法，属于集成电路设计自动化领域。该方法包括：输入电路网表、性能设计指标以及性能测试电路；确定基于方程的电路优化的各指标项目标优化值、排除了器件本身之外的寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值、以及考虑电路物理连线寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值；进行基于方程的电路优化；进行基于电路仿真器的电路优化；进行基于电路仿真器的电路优化。本发明可提高电路评测的可信度，提高优化速度，从而降低电路设计和物理设计之间的地带次数，提高设计效率，缩短设计周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模拟 集成电路设计 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种模拟集成电路设计优化方法，其特征在于，包括：步骤1，输入电路网表、性能设计指标以及性能测试电路；步骤2，根据所述电路网表、性能设计指标以及性能测试电路，确定基于方程的电路优化的各指标项目标优化值、排除了器件本身之外的寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值、以及考虑电路物理连线寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值；步骤3，根据基于方程的电路优化的目标优化值，进行基于方程的电路优化；步骤4，根据排除了器件本身之外的寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的目标优化值，进行基于电路仿真器的电路优化；步骤5，根据融合物理综合并以此精确估算电路物理连线寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的目标优化值，进行基于电路仿真器的电路优化。
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