[发明专利]一种探针测试线路及其设计方法有效
| 申请号： | 201010216492.X | 申请日： | 2010-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN101907641A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 徐惠;祁建华;施瑾;刘远华;张志勇;叶守银;牛勇;赵达君 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种探针测试线路及其设计方法，所述方法包括：熔丝探针焊盘通过插件和熔丝熔断电路相连；测试外围焊盘通过插件和测试外围电路相连，所述熔丝探针焊盘位于所述测试外围焊盘内；在所述熔丝探针焊盘和所述测试外围焊盘之间用电气隔离层相隔。本发明提供的探针测试线路及其设计方法易于测试开发工程师的硬件、程序，易于在线产品工程师的生产维护，最大程度的缩短了开发周期，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 测试 线路 及其 设计 方法 | ||
【主权项】：
一种探针测试线路设计方法，其特征在于，包括：熔丝探针焊盘通过插件和熔丝熔断电路相连；测试外围焊盘通过插件和测试外围电路相连，所述熔丝探针焊盘位于所述测试外围焊盘内；在所述熔丝探针焊盘和所述测试外围焊盘之间用电气隔离层相隔。
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