[发明专利]一种适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法无效

专利信息
申请号: 201010217268.2 申请日: 2010-06-23
公开(公告)号: CN101907581A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 杨民;刘永瞻;梁丽红;吴美金 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法,该校正方法首先得到原始DR图像每行的参考射线强度I0(z),并利用I0(z)对原始DR图像中的每行数据进行对数变换得到第一变换DR图像I1(y,z);然后对I1(y,z)进行列平均得到一维图像数列p(z),利用高通滤波器对p(z)进行滤波得到高频成分pH(z);最后采用I1(y,z)中的每列数据减去pH(z)得到第二变换DR图像I2(y,z),并对I2(y,z)进行反色变换得到校正后的最终DR图像Icorr(y,z)。本发明的校正方法能够对加速器能量波动造成的伪影进行有效的校正,从而提高了图像质量,有助于图像的判读与缺陷的识别。
搜索关键词: 一种 适用于 高能 射线 dr 扫描 系统 能量 波动 校正 方法
【主权项】:
1.一种适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法,其特征在于包括有下列步骤:步骤一:求取原始DR图像I(y,z)中每行的参考射线强度I0(z);参考射线强度I0(z)为原始DR图像I(y,z)每行中接收到没有贯穿物体的射线强度的探测单元的输出值,一般取每行的前N个探测单元的输出值的均值,并用该均值作为该行数据的参考射线强度;所述参考射线强度与每行探测单元的输出值的关系为所述N=3~5,且N<<M,M表示线阵列探测器的探测单元总数目,N表示参考探测单元的数目,y表示在DR扫描系统坐标系下的Y轴参数,z表示在DR扫描系统坐标系下的Z轴参数,I(y,z)表示对应在DR扫描系统坐标系下的原始DR图像;步骤二:对原始DR图像I(y,z)中的每行数据进行对数变换,得到第一变换DR图像I1(y,z),则对数变换表达形式为步骤三:对步骤二获得的第一变换DR图像I1(y,z)进行列平均得到一维图像数列M表示线阵列探测器的探测单元总数目;步骤四:运用一维高通滤波器对步骤三获得的一维图像数列进行滤波,得到p(z)的高频成分pH(z);所述一维高通滤波器中的n表示滤波器的阶次,一般取值6~9;w表示滤波器的频率变量,wc表示滤波器截止频率,一般取wc=0.5w0~0.8w0,w0表示Nyquist频率;步骤五:对步骤二获得的第一变换DR图像I1(y,z)中的各列减去步骤四获得的高频成分pH(z)得到第二变换DR图像I2(y,z);步骤六:选取出步骤五中获得的第二变换DR图像I2(y,z)中的最大值Max(I2(y,z)),然后用Max(I2(y,z))减去I2(y,z)实现反色变换,得到校正后的最终DR图像Icorr(y,z)=Max(I2(y,z))-I2(y,z)。
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