[发明专利]用数字式液体流量计改进低介电常数介质膜的初始层的方法无效
申请号: | 201010219968.5 | 申请日: | 2007-10-29 |
公开(公告)号: | CN101886254A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 达斯廷·W·胡;胡安·卡洛斯·罗奇-阿尔维斯;亚历山德罗斯·T·迪莫斯;凯尔文·陈;纳加拉简·雷杰戈帕兰;维斯韦斯瓦伦·西瓦拉马克里史南 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/448 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种用于沉积有机硅酸盐介质层的方法,所述方法通过将衬底定位在具有功率供给的电极的处理腔室中,将一种或多种氧化气体流入处理腔室,将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字式液体流量计流到第一蒸发注射阀,将有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和一种载气流到处理腔室中,保持第一有机硅流速以在RF功率存在下沉积初始层,将致孔剂化合物从第二大容量储存容器中以第一致孔剂流速经过第二数字式液体流量计流到第二蒸发注射阀,将致孔剂化合物蒸发并将该致孔剂化合物和一种载气流到处理腔室中,在RF功率存在下沉积一过渡层的同时,增加第一有机硅流速和第一致孔剂流速,并保持第二有机硅流速和第二致孔剂流速以在RF功率存在下沉积含有致孔剂的有机硅酸盐介质层。 | ||
搜索关键词: | 数字式 液体 流量计 改进 介电常数 介质 初始 方法 | ||
【主权项】:
一种沉积有机硅酸盐介质层的方法,包括:将衬底定位在具有功率供给的电极的处理腔室中;将一种或多种氧化气体流入处理腔室;将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字式液体流量计流到第一蒸发注射阀;将所述有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和第一载气流到所述处理腔室中;保持第一有机硅流速以在RF功率存在下沉积初始层;将致孔剂化合物从第二大容量储存容器中以第一致孔剂流速经过第二数字式液体流量计流到第二蒸发注射阀;将致孔剂化合物蒸发并将该致孔剂化合物和第二载气流到处理腔室中;在所述RF功率存在下沉积一过渡层的同时,增加第一有机硅流速和第一致孔剂流速至第二有机硅流速和第二致孔剂流速;以及保持第二有机硅流速和第二致孔剂流速以在RF功率存在下沉积含有致孔剂的有机硅酸盐介质层。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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