[发明专利]一种铁薄膜的制备方法有效
申请号: | 201010225691.7 | 申请日: | 2010-07-14 |
公开(公告)号: | CN101886243A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 孟健;武晓杰;刘孝娟;吕敏峰;邓孝龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春应用化学研究所 |
主分类号: | C23C14/14 | 分类号: | C23C14/14;C23C14/35 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏晓波;逯长明 |
地址: | 130000 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种铁薄膜的制备方法,该制备方法以Fe2O3陶瓷靶为溅射靶,利用磁控溅射沉积设备,用Ar与H2的混合气体为溅射及还原气体,通过选择合适的H2与Ar比例、沉积温度及生长室压力,制备了铁薄膜。由于Fe2O3靶材不是铁磁性材料,因此溅射源可以采用普通的永磁型溅射源,无需采用特殊的溅射源;同时,Fe2O3比单质铁更容易获得高纯度;此外,Fe2O3靶材的生产成本较低,有利于工业化生产。实验结果表明,本发明制备的铁薄膜结晶质量高,重复性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种铁薄膜的制备方法,其特征在于,包括:将衬底放入真空度为2×10-5~1×10-4pa的磁控溅射仪的生长室内;以Fe2O3陶瓷靶为溅射靶,向所述生长室中通入H2和Ar的混合气体,在0.4~1Pa的压强、400~600℃的温度下在所述衬底上溅射铁薄膜,所述H2和Ar的体积比为0.9~2∶10。
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