[发明专利]浅沟槽隔离结构及于其内形成底部孔洞的方法有效
申请号: | 201010228334.6 | 申请日: | 2010-07-08 |
公开(公告)号: | CN101950730A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 黄玉莲;钟汉邠;王祥保 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种用以形成浅沟槽隔离结构的方法及浅沟槽隔离结构。在本发明实施例中,沟槽形成于基板内,沟槽具有第一侧壁以及相对第一侧壁的第二侧壁,前述这些侧壁向下延伸至沟槽的底部。沉积绝缘材料以共同形成前述这些侧壁与沟槽的底部的衬垫层。回蚀刻绝缘材料中邻近沟槽的顶部与底部的部分。继续沉积绝缘材料以形成沟槽的内面的衬垫层,且利用足以使第一与第二突出绝缘材料逐渐接近的速度来沉积,其中第一突出绝缘材料配置于第一侧壁上,而第二突出绝缘材料配置于第二侧壁上。重复回蚀刻与沉积的步骤以使第一与第二突出绝缘材料邻接,从而形成邻近沟槽底部的孔洞。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 隔离 结构 其内 形成 底部 孔洞 方法 | ||
【主权项】:
一种用以形成浅沟槽隔离结构的方法,其特征在于,包含:(a)提供一半导体基板;(b)形成一沟槽于该基板内,该沟槽具有一第一侧壁以及一相对于该第一侧壁的第二侧壁,该第一侧壁与该第二侧壁向下延伸至该沟槽的底部;(c)沉积一绝缘材料以共同形成该第一侧壁、该第二侧壁以及该沟槽的底部的衬垫层;(d)回蚀刻该绝缘材料中邻近该沟槽的顶部以及该沟槽的底部的部分;(e)继续沉积该绝缘材料以形成该第一侧壁、该第二侧壁以及该沟槽的底部的衬垫层,且利用足以使一第一突出绝缘材料与一第二突出绝缘材料逐渐接近的速度来沉积,其中该第一突出绝缘材料沉积于该第一侧壁上,而该第二突出绝缘材料沉积于该第二侧壁上;以及(f)重复步骤(d)与(e)以使该第一突出绝缘材料与该第二突出绝缘材料邻接,从而形成一邻近该沟槽底部的孔洞。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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