[发明专利]光学参数测量装置及静态消光比的测量方法无效
| 申请号： | 201010228520.X | 申请日： | 2010-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN102338691A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;孙海江;王家赞 | 申请（专利权）人： | 北京国科世纪激光技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学参数测量装置及静态消光比的测量方法。该光学参数测量装置包括一个激光器、一个起偏器、一个用于安装待测光学元件的工装、一个检偏器、一个光电传感器件，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个具有多个滑动座的导轨，所述激光器、起偏器、工装、检偏器、光电传感器件中的至少一个设置在所述滑动座上。本发明光学参数测量装置结构简单、操作方便、成本较低的同时，还保证了其应用范围广泛、局限性较低。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 参数 测量 装置 静态 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光学参数测量装置，其包括一个激光器、一个起偏器、一个用于安装待测光学元件的工装、一个检偏器、一个光电传感器件，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个具有多个滑动座的导轨，所述激光器、起偏器、工装、检偏器、光电传感器件中的至少一个设置在所述滑动座上。
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