[发明专利]一种电路问题设计布图定位调整的方法有效
| 申请号： | 201010230166.4 | 申请日： | 2010-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN102339331A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明适用于集成电路设计领域，提供了一种电路问题设计布图定位调整的方法，所述方法包括：建立布图问题对电路性能的影响趋势表；对模拟集成电路前仿真波形和后仿真波形比较分析，确定模拟集成电路问题波形；根据问题波形定位影响模拟集成电路性能的寄生RLC问题序列；根据寄生RLC问题序列确定寄生RLC位置；根据寄生RLC位置确定寄生RLC连接的器件和对应的物理连接；确定问题设计布图；根据布图问题对电路性能的影响趋势表调整问题设计布图。本发明通过自动定位模拟集成电路问题设计布图并进行调整，解决了现行模拟集成电路设计布图问题的定位调整效率低、速度慢的问题，同时提高了模拟集成电路设计布图问题定位调整的自动化水平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 问题 设计 定位 调整 方法 | ||
【主权项】：
一种电路问题设计布图定位调整的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：根据电路分析建立布图问题对电路性能的影响趋势表；对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较分析，确定模拟集成电路的问题波形；根据所述问题波形定位影响所述模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列；根据所述问题寄生RLC问题序列确定问题寄生RLC的位置；根据所述问题寄生RLC的位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接；根据所述问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接确定问题设计布图；根据所述布图问题对电路性能的影响趋势表调整所述问题设计布图。
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