[发明专利]电子元器件的物理应力自动测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010230188.0 申请日: 2010-07-19
公开(公告)号: CN102338832A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 李昇军;梁献全;许寿国 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种电子元器件的物理应力自动测量系统,包括通讯连接的测量控制设备及测量机台。所述的测量机台包括:与测量平台连接的机械手臂;多种物理应力测量仪;及安装在机械手臂末端的多对探头,其中每对探头与上述多种物理应力测量仪中的其中一种相匹配。所述的测量控制设备用于控制上述机械手臂移动至电子元器件上各个测量点的位置,并控制所述物理应力测量仪及探头测量该电子元器件的各种物理应力。本发明还提供一种电子元器件的物理应力自动测量方法。本发明极大地减少了人力、工作量和时间的耗费。
搜索关键词: 电子元器件 物理 应力 自动 测量 系统 方法
【主权项】:
一种电子元器件的物理应力自动测量方法,其特征在于,该方法包括:(a)获取电子元器件上测量点的坐标矩阵;(b)根据上述坐标矩阵,确定电子元器件上当前需要测量的测量点,并控制一个测量机台的机械手臂运动到该测量点所处的位置;(c)获取每个电子元器件所需测量的物理应力的种类的数据;(d)根据上述每个电子元器件所需测量的物理应力的种类,确定当前测量点当前所需测量的物理应力;(e)根据上述确定的当前所需测量的物理应力,控制上述测量机台切换到与该种物理应力相匹配的物理应力测量仪和探头;(f)利用上述物理应力测量仪及探头对当前测量点进行物理应力的测量,得到一个物理应力的测量值;(g)将上述得到的物理应力的测量值与该物理应力的标准规格的矩阵相比较,以判断该物理应力是否通过了测量;及(h)生成测量报告,以输出结果显示该物理应力是否通过了测量。
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