[发明专利]用于测定织构表面的属性的方法和装置有效
| 申请号： | 201010231065.9 | 申请日： | 2010-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN101957188A | 公开（公告）日： | 2011-01-26 |
| 发明（设计）人： | 彼得·施瓦茨;乌韦·斯珀林 | 申请（专利权）人： | 毕克-加特纳有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01J3/46;G01J1/10 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 德国盖雷茨里*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定织构表面的属性的方法，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；通过检测器装置(4)检测至少部分照射到所述表面(10)和由所述表面(10)反射的射线，检测器装置(4)允许对照到它的射线进行定位评价；从检测的射线测定第一特征值(P)，其中，所述第一特征值(P)是所述表面(10)的织构的特征；从检测的射线测定第二特征值(ΔE)，其中，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征；在所述第一特征值(P)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定结果值(ΔI)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测定 表面 属性 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测定织构表面的属性的方法，其特征在于，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；通过检测器装置(4)检测至少部分照射到所述表面(10)和由所述表面(10)反射的射线，所述检测器装置(4)允许对照到它的射线进行定位评价；从检测的射线测定第一特征值(P)，其中，所述第一特征值(P)是所述表面(10)的织构的特征；从检测的射线测定第二特征值(ΔE)，其中，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征；在所述第一特征值(P)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定结果值(ΔI)。
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