[发明专利]压敏传感器的制备方法有效
申请号: | 201010233560.3 | 申请日: | 2010-07-22 |
公开(公告)号: | CN102336388A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 黄志刚;方精训 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种压敏传感器的制备方法,为在定锚通孔氧化硅刻蚀之后,增加一步刻蚀硅衬底形成定锚底座孔的步骤,并且采用硅衬底各向同性刻蚀工艺,在后续工艺流程中形成具有定锚底座的定锚,承载压敏传感器主体。并且定锚底座深入到硅衬底中且比较宽大,从而增加压敏传感器主体结构的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 传感器 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种压敏传感器的制备方法,其特征在于,在硅衬底上的第一牺牲层中刻蚀形成定锚通孔之后,包括如下步骤:1)采用各向同性的刻蚀工艺,刻蚀所述定锚通孔下的硅衬底至硅平面下预定深度,形成定锚底座孔,而后去除光刻胶;2)CMP工艺研磨去除所述硅衬底上的第一牺牲层;3)在所述硅衬底上淀积传感薄膜,所述传感薄膜填充硅衬底中的所述定锚底座孔,形成定锚底座;4)CMP工艺研磨所述传感薄膜至所述硅衬底平面;5)在硅衬底上淀积第二牺牲层;6)采用光刻工艺在所述第二牺牲层上定义出定锚通孔的位置,而后刻蚀所述第二牺牲层至所述硅衬底中的传感薄膜中,形成定锚通孔,之后去除光刻胶;7)在所述第二层牺牲层上再次淀积传感薄膜,所述传感薄膜填充所述定锚通孔形成定锚,最终形成由定锚底座和定锚构成的传感薄膜支撑柱;8)紧接着进行高温退火处理,之后进行传感薄膜图形化等常规的工艺。
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