[发明专利]一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统有效
| 申请号： | 201010236738.X | 申请日： | 2010-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN101963620A | 公开（公告）日： | 2011-02-02 |
| 发明（设计）人： | M·穆斯滕贝克尔;I·施图克 | 申请（专利权）人： | GE传感与检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N23/04;G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;张静娟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 射线 自动 测试 测量 基本 相同 元件 系统 | ||
【主权项】：
一种通过X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其中所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和安装在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于GE传感与检测技术有限公司，未经GE传感与检测技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010236738.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：芯片擦除方法
- 下一篇：一种长耐久性的超疏水自清洁涂层材料及其制备方法
