[发明专利]带有辅助测块的孔位置度综合检具有效
| 申请号： | 201010240201.0 | 申请日： | 2010-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN101907431A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 李维明;李四娣;周国成 | 申请（专利权）人： | 广东鸿特精密技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人： | 华辉 |
| 地址： | 526070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明一种带有辅助测块的孔位置度综合检具，包括有一底座，底座上设置有定位锁紧机构和孔位置度测量机构，其中，所述孔位置度测量机构包括有直孔测量部件和斜孔测量部件，每一直孔测量部件和每一斜孔测量部件分别包括有使用配合的测量套和测杆；进一步，所述斜孔测量部件包含有一锥螺纹斜孔测量部件，锥螺纹斜孔测量部件配套设有一辅助测块，辅助测块的一端部与待测工件的锥螺纹斜孔紧配连接，另一端部与锥螺纹斜孔测杆插接配合。本发明的有益效果为：1、采用辅助测块，能够很好的解决高精密锥螺纹孔的位置度检测问题，操作方便快捷；2、底面孔利用固定式测杆，更加方便快捷，并节约了制造成本；3、整体结构简单合理，定位精确便捷，能够进行多方位模拟装配，满足了生产现场大批量检测的需要。 | ||
| 搜索关键词： | 带有 辅助 位置 综合 | ||
【主权项】：
一种带有辅助测块的孔位置度综合检具，包括有一底座，底座上设置有定位锁紧机构和孔位置度测量机构，其中，所述孔位置度测量机构包括有直孔测量部件和斜孔测量部件，每一直孔测量部件和每一斜孔测量部件分别包括有使用配合的测量套和测杆，其特征在于：所述斜孔测量部件包含有一锥螺纹斜孔测量部件，锥螺纹斜孔测量部件配套设有一辅助测块，辅助测块的一端部与待测工件的锥螺纹斜孔紧配连接，另一端部与锥螺纹斜孔测杆插接配合。
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