[发明专利]测量磁头噪声的方法及其系统有效
| 申请号： | 201010240216.7 | 申请日： | 2010-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN102347031A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 陈华俊;郑子乐;陈胜强 | 申请（专利权）人： | 新科实业有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测量磁头噪声的方法，该方法包括：设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。根据本发明的方法，与磁头不稳定性有关的噪声和其它固有噪声能够被分别测量和处理，从而精确地辨别磁头的真正瑕疵。相应地，本发明还揭露了测量磁头噪声的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 磁头 噪声 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括：设置复数个阈值；施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；施加外部时变横向磁场到所述磁头；放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；过滤所述放大信号以产生过滤信号；对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；测量每一所述使能信号的累计时长；根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新科实业有限公司，未经新科实业有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010240216.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电源
- 下一篇：一种用自由电子补偿自由基的方法及其专用设备
