[发明专利]半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头及其传感装置有效

专利信息
申请号: 201010240389.9 申请日: 2010-07-27
公开(公告)号: CN101936786A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 黎敏;李玉林 申请(专利权)人: 武汉光子科技有限公司
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 黄瑞棠
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头及其传感装置,涉及一种温度传感器。本探头是:在光纤(1)的一端面(12)上镀有单层的半导体薄膜(13)。本传感装置是:光源(20)的输出端与光分路器(30)的输入端连接;光分路器(30)的输出端与光纤温度探头(10)连接,光分路器(30)的返回端与光探测器(40)连接,光探测器(40)、后续处理电路(50)和微处理器(60)前后依次连接。本发明结构更简单,探头更小只有0.1毫米,更方便安装,适用范围更广;成本更低廉,对光源波长没有特殊要求;系统易于补偿,测温分辨率高;适用于电力、化工、生物医疗等特殊场所的温度实时在线监测。
搜索关键词: 半导体 单层 薄膜 反射 干涉 光纤 温度 探头 及其 传感 装置
【主权项】:
一种半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头,其特征在于:本探头(10)包括光纤(11)、端面(12)和半导体薄膜(13);在光纤(1)的一端面(12)上镀有单层的半导体薄膜(13)。
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