[发明专利]一种测试测试元件摆放方法无效
| 申请号： | 201010242199.0 | 申请日： | 2010-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN101923142A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘方;王林;张柱;吴景霞 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试测试元件摆放方法，方法步骤是在集成电路IC芯片或较大元件底部的PCB板上设置有测试元件预留针脚孔，测试元件的上部与集成电路IC芯片或较大电子元件底部叠加在一起，测试元件的针脚插在测试元件预留针脚孔中，测试元件针脚下端向下露出PCB板，集成电路IC芯片性能测试时，通过露出PCB板的测试元件的针脚连接测试仪器或设备。本发明的这种堆叠测试元件放置的方法可以应用到计算机通信产品生产中，可以提高上述产品的PCB利用率，比如完全解决了阻抗测试不能完全反映PCB板内阻抗的缺点，在有限的空间内实现更多功能的可能性，从而增强产品的竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 元件 摆放 方法 | ||
【主权项】：
一种测试测试元件摆放方法，其特征在于，方法步骤是在集成电路IC芯片或较大元件底部的PCB板上设置有测试元件预留针脚孔，测试元件的上部与集成电路IC芯片或较大电子元件底部叠加在一起，测试元件的针脚插在测试元件预留针脚孔中，测试元件针脚下端向下露出PCB板，集成电路IC芯片性能测试时，通过露出PCB板的测试元件的针脚连接测试仪器或设备。
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