[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 201010243230.2 | 申请日: | 2010-07-30 |
公开(公告)号: | CN101996940A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 青木康志 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/8242;H01L23/528 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 孙志湧;穆德骏 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件及其制造方法。在制造半导体器件的方法中,到达单元晶体管扩散区的第一接触孔、到达单元晶体管扩散区的位线接触孔和与位线接触孔连通的互连凹槽被掩埋在第一绝缘膜中。另外,通过将导电材料掩埋在第一接触孔、位线接触孔和互连凹槽中,分别形成第一接触插塞和位线接触,并且第一接触插塞通过在第二绝缘膜中形成的开口被电连接到在第三绝缘膜中形成的电容器。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,包括:在半导体衬底的存储器区中形成单元晶体管,以及在所述半导体衬底的逻辑区中形成逻辑器件;形成第一绝缘膜,所述第一绝缘膜用于覆盖所述半导体衬底上方的所述单元晶体管和所述逻辑器件;通过利用蚀刻对所述第一绝缘膜进行选择性地处理,形成位线互连凹槽;通过利用蚀刻对所述第一绝缘膜进行选择性地处理,形成到达所述单元晶体管的第一扩散区的第一接触孔,以及形成到达所述单元晶体管的第二扩散区并且与所述互连凹槽连通的位线接触孔;通过将导电材料掩埋在所述第一接触孔中,形成第一接触插塞,以及通过将导电材料掩埋在所述位线接触孔和所述互连凹槽中,分别形成位线接触插塞和位线;形成第二绝缘膜,所述第二绝缘膜用于覆盖所述第一绝缘膜上方的所述第一接触插塞和所述位线;通过利用蚀刻对所述第二绝缘膜进行选择性地处理,形成到达所述第一接触插塞的第一开口;在形成所述第一开口之后,在所述第二绝缘膜上方形成第三绝缘膜;通过利用蚀刻对所述第三绝缘膜进行处理,形成与所述第一开口连通的凹部;以及在所述凹部中形成电容器,所述电容器通过所述第一开口被电连接到所述第一接触插塞。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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