[发明专利]依据温度校正测距装置量测的待测距离的方法及其装置

摘要

本发明公开了一种依据环境温度以校正测距装置所量测的待测物的待测距离的校正方法及其装置，该方法包括提供温度传感器以量测该测距装置的该环境温度、依据该环境温度与该测距装置测距时的成像位置，以计算校正成像位置，以及依据该校正成像位置，以计算经校正后的该待测距离。如此，当测距装置测距时，可依据该校正方法，以避免因环境温度的变化而产生的误差。

主权项

一种依据环境温度以校正测距装置所量测的待测物的待测距离的校正方法，该测距装置具有发光组件、第一镜头、影像传感器，该发光组件发射侦测光至该待测物以产生反射光，该反射光通过该第一镜头汇聚于该影像传感器，以成像于第一成像位置，该测距装置依据该第一成像位置、该第一镜头的焦距、该发光组件与该影像传感器之间的第一已知距离，以计算该测距装置与该待测物之间的该待测距离，该校正方法的特征在于包括：提供温度传感器以量测该测距装置的该环境温度；依据该环境温度与该第一成像位置，以计算第一校正成像位置；以及依据该第一校正成像位置，以计算经校正后的该待测距离。