[发明专利]非易失性存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010258579.3 申请日: 2010-08-20
公开(公告)号: CN102263108A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 李起洪;周文植;洪权 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/06;H01L21/8247;H01L21/223
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 郭放;黄启行
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种非易失性存储器件,包括:一对柱状单元沟道,所述一对柱状单元沟道自衬底垂直延伸;掺杂的管沟道,所述掺杂的管沟道被设置为使一对柱状单元沟道的下端耦合;衬底上的绝缘层,掺杂的管沟道掩埋在所述绝缘层中;存储层,所述存储层被设置为包围柱状单元沟道的侧表面;以及控制栅电极,所述控制栅电极被设置为包围存储层。
搜索关键词: 非易失性存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储器件,包括:一对柱状单元沟道,所述一对柱状单元沟道自衬底垂直延伸;掺杂的管沟道,所述掺杂的管沟道设置为使所述一对柱状单元沟道的下端耦合;衬底上的绝缘层,所述掺杂的管沟道掩埋在所述绝缘层中;存储层,所述存储层设置为包围所述柱状单元沟道的侧表面;以及控制栅电极,所述控制栅电极设置为包围所述存储层的侧表面。
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