[发明专利]制造阵列基板的方法有效
申请号: | 201010259018.5 | 申请日: | 2010-08-19 |
公开(公告)号: | CN102074502A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 李洪九;金圣起;裵俊贤;金杞泰 | 申请(专利权)人: | 乐金显示有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L21/311;H01L29/06 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;吕俊刚 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 制造阵列基板的方法包括:形成选通线和栅极;在选通线和栅极上依次形成栅绝缘层、本征非晶硅层、无机绝缘材料层和传热层;向传热层照射激光束以将本征非晶硅层晶化为多晶硅层;去除传热层;利用缓冲氧化刻蚀剂构图无机绝缘材料层以形成与栅极对应的刻蚀阻挡层,其中构图无机绝缘材料层的第一处理时间长于完全去除无机绝缘材料层最少需要的第二处理时间;在刻蚀阻挡层和多晶硅层上依次形成掺杂非晶硅层和金属层;构图金属层以形成数据线、源极和漏极,构图掺杂非晶硅层以形成欧姆接触层,构图多晶硅层以形成有源层;在数据线、源极和漏极上形成包括露出漏极的部分的漏极接触孔的钝化层;在钝化层上形成像素电极,该像素电极通过漏极接触孔与漏极的该部分接触。 | ||
搜索关键词: | 制造 阵列 方法 | ||
【主权项】:
一种制造阵列基板的方法,该方法包括:形成选通线和与该选通线连接的栅极;在所述选通线和所述栅极上依次形成栅绝缘层、本征非晶硅层、无机绝缘材料层和传热层;向所述传热层上照射激光束以将所述本征非晶硅层晶化为多晶硅层;去除所述传热层;利用缓冲氧化刻蚀剂对所述无机绝缘材料层进行构图,以形成与所述栅极对应的刻蚀阻挡层,其中用于对所述无机绝缘材料层进行构图的步骤的第一处理时间长于完全去除所述无机绝缘材料层所最少需要的第二处理时间;在所述刻蚀阻挡层和所述多晶硅层上依次形成掺杂非晶硅层和金属层;对所述金属层进行构图以形成数据线、源极和漏极,对所述掺杂非晶硅层进行构图以形成欧姆接触层,并且对所述多晶硅层进行构图以形成有源层,其中,所述数据线与所述选通线交叉并与所述源极连接,所述漏极与所述源极隔开,所述源极的一端和所述漏极的一端与所述刻蚀阻挡层相交叠,所述欧姆接触层设置在所述源极和漏极的下面,并且所述有源层设置在所述欧姆接触层和所述刻蚀阻挡层的下面;在所述数据线、所述源极和所述漏极上形成钝化层,并且所述钝化层包括露出所述漏极的一部分的漏极接触孔;以及在所述钝化层上形成像素电极,并且该像素电极通过所述漏极接触孔与所述漏极的所述一部分相接触。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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